M 4.490 Automatische Überwachung der Baugruppenfunktion (BIST) bei eingebetteten Systemen

Verantwortlich für Initiierung: Behörden-/Unternehmensleitung, Beschaffer, Planer, Leiter IT

Mit einem eingebauten Selbsttest (Built-In Self Test, BIST) kann sich ein Schaltkreis, ein Gerät oder System selbst testen. Dazu werden Testsignale erzeugt, an die zu testende Komponente angelegt und die Antwortsignale ausgewertet, meist durch Vergleich mit vorgegebenen richtigen Antwort-Signalen. Bei einem BIST werden die Funktionen der Testumgebung (Automatic Test Equipment, ATE) wie Testsignalgeneratoren oder Auswerteeinheiten ganz oder teilweise direkt auf dem Chip implementiert. Dies führt zu verkürzten Signalpfaden, ungewollte Kopplungen werden verringert und die Signalintegrität auf den Testleitungen wird verbessert.

Ein Selbsttest kann im normalen Betrieb, während der Initialisierungsphase, während Ruhezeiten, vor dem Ausschalten oder außerhalb der Betriebsumgebung als funktionaler diagnostischer Test der Soft- und Hardware erfolgen. Beispiele für verschiedene Arten von BIST sind:

Sämtliche Baugruppen des eingebetteten Systems mit erhöhten Anforderungen an die Verfügbarkeit und Integrität sollten integrierte Selbsttesteinrichtungen besitzen. Tests müssen während des Einschaltvorgangs und in angemessenen zeitlichen Intervallen während des Betriebs die Integrität des Systems prüfen. Soweit möglich, sollten die Selbsttestfunktionalitäten auch Sicherheitsfunktionen bzw. Sicherheitseigenschaften der Baugruppe überprüfen.

Bei Komponenten mit höherem Schutzbedarf, z. B. in kritischen Steuerungssystemen, sollte regelmäßig die Integrität der Speicher und I/O-Komponenten in Rahmen des BIST geprüft werden. Bestehende BIST-Funktionen sind, falls möglich, um die erforderlichen Funktionen zu ergänzen.

Prüffragen: